微处理器芯片测试装置chiller适用于航空航天、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品研发等，同时可通过此试验，进行产品的质量控制及新产品的研制等。

　　一、微处理器芯片测试装置chiller工作原理：

　　试验机输出气流将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验。

　　二、对比传统温箱，微处理器芯片测试装置chiller特点：

　　1、高低温温度范围在-85~250°C，控温精度±0.5°C。

　　2、采用气动控制，转换时间短，温变速度快，设备整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。

　　3、微处理器芯片测试装置chiller升降速率非常快速，升降温时间可控，程序化操作、手动操作、远程控制。

　　4、超大触摸屏操作，外观简洁大方，操作简单方便，设定值实际值实时显示；

5、测试条件：环境温度20°C，10~30m3/h，5~7Bar，干燥压缩空气或者氮气。