元器件测试高低温一体机，制冷加热装置

主要用于半导体测试中的温度测试模拟，具有宽温度定向和高温升降，温度范围-92℃~250℃，适合各种测试要求.LNEYA致力于解决了电子元器件中温度控制滞后的问题，超高温冷却技术可以直接从300℃冷却。

元器件测试高低温一体机，制冷加热装置

    元器件高低温测试机提醒，发生在产品研制阶段，生产阶段到使用阶段的各个环节，通过分析工艺废次品，早期失效，实验失效及现场失效的失效产品明确失效模式、分折失效机理，终找出失效原因，因此元器件的使用方在元器件的选择、整机计划等方面，元器件生产方在产品的可靠性方案设计过程，都必须参考失效分折的结果。通过失效分折，可鉴别失效模式，弄清失效机理，提出改进措施，并反馈到使用、生产中，将提高元器件和设备的可靠性。

    对电子元器件失效机理，原因的诊断过程叫失效分析。进行失效分析往往需要进行电测量并采用*的物理、冶金及化学的分析手段。失效分析的任务是确定失效模式和失效机理.提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理的重复出现。因此，失效分析的主要内容包括：明确分析对象、确定失效模式、判断失效原因、研究失效机理、提出预防措施（包括设计改进)。

　　芯片高低温测试机电子元器件测试系统以其优良的软硬件性能和完善的服务在航天、航空、电子、邮电、半导体、核工业、兵器等行业得到广泛的应用。用户单位包括从事整机研制和生产的研究所和企业，包括从事半导体器件研制和生产的研究所和企业，包括专业从事电子元器件测试筛选的测试中心，也包括一些外资公司和企业。因而创造了良好的经济效益和社会效益。

目前，无锡冠亚利用制冷加热动态控温系统还在针对电子元器件行业的测试工作不断开发新的产品，为我国的电子元器件测试行业做出发展。