半导体芯片控温调试制冷加热控温设备

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无锡冠亚芯片高低温测试机是针对电子元器件行业测试所推出的，那么，这类芯片高低温测试机适用于那些行业呢？

　　经过无锡冠亚的努力，其开发生产的芯片高低温测试机TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型号可以用于中小规模数字集成电路逻辑功能及静态直流参数测试，在微弱电流测试方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光电搞合器、可控硅等各种半导体分立器件进行参数测试，测试原理符合国标及军标要求，功率参数采用300uS脉冲测试，并采用数据、图形双重显示。用于普通、化、时间等各类电磁继电器参数的测试，在触点接触电阻和时间参数的测试方面有良好的特性，被我国国军标电磁继电器生产线选用。

　　芯片高低温测试机通用数字电路和接口电路的逻辑功能和静态直流参数测试以及通用运算放大器及电压比较器的静态直流参数测试，在微弱电压、电流测试方面有良好的性能，适用于低失调和高阻等相同的测试。芯片高低温测试机稳压器测试系统用于正压、负压、固定、可调三端集成稳压器参数的测试，采用四线测试原理，测试夹具全部采用3M公司原装测试夹具，具有良好的测试精度。芯片高低温测试机电磁继电器介质耐压绝缘电阻测试系统用于电磁继电器介质耐压和绝缘电阻等额的测试，测试贯注符合国军标要求。

微流体芯片测试原理

　　微流体芯片测试是芯片开发以及生产过程中比较重要的一项设备，那么无锡冠亚微流体芯片测试的运行原理大家了解多少呢？

　　微流体芯片测试利用基于数字信号处理的测试技术来测试，微流体芯片测试能并行地进行参数测试，所以能减少测试时间，能把各个频率的信号分量区分开来（也就是能把噪声和失真从测试频率或者其它频率分量中分离出来），所以能增加测试的精度和可重复性。

　　微流体芯片测试采样用于把信号从连续信号（模拟信号）转换到离散信号（数字信号），重建用于实现相反的过程。自动测试设备（ATE）依靠采样和重建给待测芯片（DUT）施加信号或者测量它们的响应。测试中包含了数学上的和物理上的采样和重建。