半导体芯片测试控温高低温一体机

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微流体芯片测试原理

　　微流体芯片测试是芯片开发以及生产过程中比较重要的一项设备，那么无锡冠亚微流体芯片测试的运行原理大家了解多少呢？

　　微流体芯片测试利用基于数字信号处理的测试技术来测试，微流体芯片测试能并行地进行参数测试，所以能减少测试时间，能把各个频率的信号分量区分开来（也就是能把噪声和失真从测试频率或者其它频率分量中分离出来），所以能增加测试的精度和可重复性。

　　微流体芯片测试采样用于把信号从连续信号（模拟信号）转换到离散信号（数字信号），重建用于实现相反的过程。自动测试设备（ATE）依靠采样和重建给待测芯片（DUT）施加信号或者测量它们的响应。测试中包含了数学上的和物理上的采样和重建。

　　微流体芯片测试模拟开关，它的晶体管电阻随着数字信号变化；可编程增益放大器，能用数字信号调节输入信号的放大倍数；数模转换电路（D/AsorDACs）；模数转换电路（A/DsorADCs）；锁相环电路（PLLs），常用于生成高频基准时钟或者从异步数据中恢复同步时钟。

　　微流体芯片测试每个电源管脚消耗的电流是发现芯片是否存在灾难性缺陷的方法之一。每个电源管脚被设置为预定的电压，接下来用自动测试设备的参数测量单元测量这些电源管脚上的电流。这些测试一般在测试程序的开始进行，以快速有效地选出那些*失效的芯片，电源测试也用于保证芯片的功耗能满足终端应用的要求。