冠亚制冷TES系列热流仪-准确控温的高低温循环测试系统，能够准确控制热、冷空气，应用在测试元器件、混合电路、模块、PCB和装配。

　　高低温循环测试系统采用单压缩机技术，可适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC、光通讯（如收发器transceiver 高低温测试、SFP光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

　　高低温循环测试系统产品应用：

　　1、测试闪存Flash、UFS、eMMC 、PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件；

　　2、特性分析；

　　3、对设计的验证；

　　4、失效分析；

　　5、温度冲击测试 ；

　　6、高低温温变测试；

　　7、对收发器 Transceiver 高低温测试、SFP光模块高低温测试；

　　8、其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究。

　　高低温循环测试系统是一款小型温度测试系统，对所有类型的组件进行温度测试，例如传感器，光纤收发器和组件，微波混合器，MCM，PCB或其他类型的电子设备/非电子零件。

　　高低温循环测试系统用于温度测试，快速热循环，和组分，混合，模块，电路板和其它电子和非电子组件设备温度表征在准确的温度从-25℃~+200℃。

　　高低温循环测试系统可以放置在工程实验室中工作站测试台的上方或下方，也可以在生产测试台上对齐，占地面积小，用于您的温度试验和热调节的要求。